Introduction
從最早被發現的石墨烯(Graphene)，一直到適合應用在積體電路的二硫化鉬(MoS2)、二硫化鎢(WS2)；二維層狀材料的特性研究是近年來各相關學科的熱門研究方向。而除了自身的物理性質外，若再與其他材料結合並形成「異質結構」，就會有更多的變化，使該領域的發展更為廣泛與豐富。
Critical Issue
由於材料厚度被限制在幾個奈米的尺度內，或是只有原子的尺度(如石墨烯)，故其表面的性質與塊材(bulk)相比有著極大差異。甚至於同塊樣品的中心與邊緣，兩者間的些微差異，就會產生不同的光譜資訊。若沒有精確的影像特徵來輔助，並加上精準地光點定位測量，必定難以詳細地呈現樣品真正的樣貌。
Result
透過超高速的高解析光譜影像，準確地進行微區量測，進而能夠快速判別二維材料的層數。全自動光路切換功能，和便捷的光譜影像分析軟體，能夠提升20倍實驗效率。搭配先進擴充模組，接軌世界最前沿的材料研究。
Conclusion
奈米科技的應用發展，因為可調控能隙之半導體二維材料的出現，更進一步地被推向原子尺度的範疇，而在學術研究、產業創新和元件製造上都具有巨大潛力。
